AL120-128-WM 웨이퍼 검사 시스템
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작성자사이언스타운 조회 52회 작성일 25-08-07 13:38본문
AL120-128-WM 웨이퍼 검사 시스템
AL120-128-WM Wafer Inspection System

AL120-128-WM 웨이퍼 검사 시스템은 8인치 및 12인치 SEMI 표준 웨이퍼를 대상으로 정밀한 매크로 및 마이크로 비주얼 검사를 수행할 수 있는 고사양 자동 검사 솔루션입니다.
Olympus AL120-LMB128 자동 로더와 고성능 현미경 시스템이 통합되어 있어, 생산 현장에서 빠르고 안정적인 검사 프로세스를 구현합니다. 진공 척 기반의 모터식 스테이지를 통해 검사 정확도를 극대화하며, 웨이퍼 매핑, 결함 관리, 통신 등 다양한 기능을 지원합니다.
제품 사양 (Specifications)
항목 |
사양 (Korean) |
사양 (English) |
지원 웨이퍼 |
8인치 / 12인치 SEMI 표준 |
8” / 12” SEMI standard |
로딩 포트 |
FOUP / FOSB / 오픈 카세트 |
FOUP / FOSB / Open Cassette |
자동 로더 |
Olympus AL120-LMB128 |
Olympus AL120-LMB128 wafer loader |
검사 방식 |
매크로 (상단/후면) 및 마이크로 시각 검사 |
Macro (Top/Backside) & Micro Visual Inspection |
현미경 통합 |
Olympus / Evident MX61L 또는 MX63L |
Olympus / Evident MX61L / MX63L |
스테이지 |
진공 척 기반 모터식 스테이지 |
Motorized stage with vacuum chuck |
웨이퍼 매핑 |
SEMI 표준 대응 매핑 시스템 |
SEMI standard wafer mapping system |
데이터 관리 |
빈/결함 관리 기능 |
Bin / Defect management |
진동 제어 |
진동 방지 플랫폼 |
Anti-vibration platform |
통신 |
TCP/IP 통신, SECS/GEM (옵션) |
TCP/IP interface, SECS/GEM (optional) |
제품 특징
-
Olympus AL120 자동 로더 탑재
안정적인 웨이퍼 이송 및 로딩으로 작업 효율 극대화 -
고정밀 시각 검사
상단/후면 매크로 및 마이크로 현미경 검사 통합 지원 -
현미경 통합 유연성
Olympus MX61L, MX63L 등 다양한 고급 모델과 호환 -
정밀 스테이지 기반 검사
진공 척과 고정밀 모터 스테이지로 검사 정확도 향상 -
SEMI 표준 완벽 대응
FOUP/FOSB/오픈 카세트, 웨이퍼 매핑 등 산업 표준 완비 -
클린룸 대응 가능
HEPA 필터 옵션 및 진동 방지 설계로 청정 환경 유지
적용 분야
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반도체 전공정/후공정 시각 검사
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웨이퍼 결함 분석 및 품질 검수
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웨이퍼 정렬 및 표면 오염도 분석
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매뉴얼 검사 공정 자동화 전환